При проведении съемки на атомарном уровне даже крошечные движения образца снимаемого материала могут привести к искажению и размыванию получаемого изображения. И, к сожалению, эти движения практически невозможно предотвратить. Исследователи из Университета Северной Каролины разработали новую технологию микросъемки, которая позволяет измерить движения образца и компенсировать их позже при окончательной сборке, в результате которой получается высококачественное изображение. Разработанная технология работает совместно с растровыми просвечивающими электронными микроскопами (Transmission Electron Microscopes, TEM), одним из немногих видов микроскопов, которые позволяют получать изображения отдельно взятых атомов вещества. Область, которую может охватить модернизированный TEM-микроскоп, имеет размер в 25 нанометров, а на проведение процедуры съемки требуются десятки секунд времени.